अति तीव्र स्पेक्ट्रोस्कोपी
Z-स्कैन
Z-स्कैन ऑप्टिकल पदार्थों का अरेखीय अपवर्तनांक और अरेखीय अवशोषण गुणांक मापता है।
उत्पाद परिचय
Z-स्कैन क्या है?
Z-स्कैन प्रायोगिक तकनीक ऑप्टिकल पदार्थों का अरेखीय अपवर्तनांक और अरेखीय अवशोषण गुणांक मापने के लिए प्रयुक्त होती है। नमूने को केंद्रित लेज़र किरण के प्रकाशिक पथ पर स्थानांतरित किया जाता है, और तीव्रता को खुले-अपर्चर तथा बंद-अपर्चर फोटोडायोडों से एक साथ अभिलेखित किया जाता है।
अनुरेख कैसे पढ़े जाते हैं
किरण फोकस के निकट, बंद-अपर्चर सिग्नल में परिवर्तन मुख्यतः अरेखीय-अपवर्तन-प्रेरित स्व-फोकसन से आते हैं, जबकि खुले-अपर्चर विचलन अधिकांशतः अरेखीय अवशोषण है। दोनों अनुरेखों की युगपत् फिटिंग दोनों अरेखीय प्राचलों की पहचान करती है। मापन CARBIDE या PHAROS फेमटोसेकंड लेज़र तथा ORPHEUS ऑप्टिकल पैरामीट्रिक एम्पलीफायर से किया जा सकता है, अतः अरेखीय प्राचलों का परिक्षेपण भी अभिलेखित किया जा सकता है।
